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• 在生产线或应用时，造成EOS破坏的原因

  在生产线或应用时，造成EOS破坏的原因随着半导体制程技术越来越先进、操作电压越来越低以及系统功能越来越复杂，导致EOS(ElectricalOverStress，过度电性应力)更容易窜到系统内部，使得损坏面积加大。多年来，EOS一直是科技产业产品故障率最高的原因之一。但就解决时间和成本而...

• 系统内部电路中 主芯片内部电源提供 EOS 防护

  系统内部电路中主芯片内部电源提供EOS防护对于系统而言，较常见的EOS事件多发生于对外接口(如:USB、HDMI…等)，因此通常对外接口都会加上TVS元件加强EOS的防护。但除了对外接口，在市场端其实也有发生系统主芯片的Corepower因EOS能量而造成的烧毁事件。举例来说，晶焱科...

• 面板产品应用的EOS最佳解決方案

  面板产品应用的EOS最佳解決方案近年来随着各个显示屏模组厂商在针对静电放电(ESD)防护方案愈加完善，较少出现产品在测试时或者生产中、后期出现ESD事件导致显示屏损伤的情况，而是产品受EOS损伤的情况却屡屡发生。EOS事件带来的破坏往往是永久性的物理损伤，比如导致T-CON或Dr...

• AMAZINGIC晶焱科技：TVS Array layout时应注意的事项

  AMAZINGIC晶焱科技：TVSArraylayout时应注意的事项近年随着电子产品小型化的趋势，R&D研发人员在设计产品时往往会面临到因PCB空间较小而造成PCBGND的宣泄路径不佳，容易导致无法通过ESD/EOS测试的问题，为了顺利通过IEC-61000-4-2及IEC-61000-4-5防护测试规范，R&D研...

• AMAZINGIC晶焱科技：Ethernet网口的ESD/EOS防护方案

  AMAZINGIC晶焱科技：Ethernet网口的ESD/EOS防护方案网口在NB、MB、IP-CAM等产品上属于相当常见的端口，因网络有可能布线至户外，受到EOS突波干扰而造成网络功能异常的机率较高，故有必要在网口设计有效率的ESD/EOS防护对策。如图一所示，网口的架构由外部往内可大致切分成3大...

• AMAZINGIC晶焱科技：TWS 及音箱产品充电端的过度电性应力 (EOS) 防护方案

  AMAZINGIC晶焱科技：TWS及音箱产品充电端的过度电性应力(EOS)防护方案TWS充电盒的设计趋势---追求高续航力与高充电效率由于真无线蓝牙耳机(TWS)的便利性，全球TWS消费市场的竞争可谓日益激烈。即使根据研调机构于2022年的分析报告指出，前五大品牌市占排行占比总和已超过50%，...

• AMAZINGIC晶焱科技：为何EOS(Surge)逐渐被硬体设计人员重视？

  为何EOS(Surge)逐渐被硬体设计人员重视？现今的市场很重视电子产品在使用时的稳定，所以硬体研发人员在设计产品时，静电放电波型(ESD，ElectrostaticDischarge)已成为必定会测试的项目之一。然而，近年来研发人员也会同时考量测试另一种破坏性更强的EOS(ElectricalOverStress...

• NISSHINBO日清纺推出超低功耗～用于 GNSS的宽频带低噪声放大器 LNA “NT1195”

  NISSHINBO日清纺推出超低功耗～用于GNSS的宽频带低噪声放大器LNA“NT1195”“NT1195”在GNSS全频带（1164MHz～1610MHz）其在电流仅有1.9mA的情况下，实现了低噪声系数及高增益特性。此外，该产品采用了1.1x0.7mm的小尺寸封装，非常适合像智能手表和健康...